各ADC151は、DAC160により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号SLCADCと、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ画素信号SIGと、を比較する比較器（コンパレータ）152を有する。
每个 ADC 151具有比较器 152，比较器 152把通过逐步改变 DAC 160生成的参照信号所获得的拥有斜坡波形的参照信号 SLP_ADC与经由垂直信号线 116从每行像素所获得的模拟像素信号 SIG加以比较。 - 中国語 特許翻訳例文集
各カラム処理回路（ADC）61は、DAC7により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号Vslとを比較する比較器61−1を有する。
每个列处理电路 (ADC)61 包括比较器 61-1，比较器 61-1 比较基准信号RAMP(Vslop)和经由垂直信号线从每个行线上的相应像素获得的模拟信号 Vs1，其中，该基准信号 RAMP是通过改变由 DAC 7逐步生成的基准信号而获得的斜坡波形。 - 中国語 特許翻訳例文集
各ADC161は、DAC170により生成される参照信号を階段状に変化させたランプ波形である参照信号RAMP（Vslop）と、行線毎に画素から垂直信号線を経由し得られるアナログ信号VSLとを比較する機能部としての比較器162を有する。
ADC 161的每个包括作为功能部分的比较器 162，比较器 162用来比较作为通过逐步改变由 DAC 170生成的基准信号而获得的斜坡波形的基准信号 RAMP(Vslop)、与经由垂直信号线从各个行线上的相应像素获得的模拟信号 VSL。 - 中国語 特許翻訳例文集