通し試験

[とおししけん] [toosisiken]

通し試験

读成： とおししけん
中文： 接通试验

なお記述の目的で、「ドライブ」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oへとデータを駆動するデータフローを示し、「受信」モードは試験システムが並列試験回路500を通してDUTのI／Oからのデータを受信するデータフローを示す。

注意，出于该描述的目的，“驱动”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500将数据驱动到 DUT I/O的数据流，并且“接收”模式表示其中测试系统正通过并行测试电路 500从 DUT I/O接收数据的数据流。 - 中国語 特許翻訳例文集

処理ブロック440において、試験パッチを生成するのに用いられた印刷データからのCMYK値を転送してCLUT220のAからBへの変換テーブルを通し、各々の使用可能なICCプロファイルに対するL＊a＊b＊値を生成する。

在处理块440，使来自用于生成测试块的打印数据的CMYK值穿过(push through)CLUT 220的A-B表格，以为每个可用的 ICC特性文件生成 L*a*b值。 - 中国語 特許翻訳例文集

3. 前記制御ユニットは、試験パッチを生成するのに用いられた前記印刷データからの装置空間値を転送して1つ又はそれ以上のカラー・ルックアップテーブル（CLUT）を通し、各々の使用可能なICCプロファイルに対するPCS値を生成することを特徴とする請求項2に記載の印刷システム。

3.根据权利要求 2所述的印刷系统，其中所述控制单元使装置空间值穿过一个或多个色彩查找表 (CLUT)，以为每个可用的 ICC特性文件生成 PCS值，所述装置空间值来自用于生成测试块的打印数据。 - 中国語 特許翻訳例文集