DAC制御部は、カラム処理回路群150の各カラム処理回路(ADC)151のAD変換を行う行ごとに、参照信号SLPADCの傾きを調整するように制御する。
DAC控制部件执行控制,以使得针对将经受列处理电路组 150中各个列处理电路(ADC)的 AD转换的每行,来调整参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集
DAC160は、DAC制御部の制御の下、ある傾きを持った線形に変化するスロープ波形である参照信号(ランプ信号)を生成し、参照信号SLCADCをカラム処理回路群150に供給する。
DAC 160在 DAC控制部件的控制下,使用按给定倾斜度线性变化的斜波形,生成参照信号 (斜坡信号 ),并且把参照信号 SLP_ADC供给至列处理电路组 150。 - 中国語 特許翻訳例文集
DAC制御部は、カラム処理回路群150におけるCDS(Correlated Double Sampling;CDS)時に、量子化ビット数に違いに応じて1次サンプリング、2次サンプリングそれぞれの参照信号SLPADCの傾き調整を行うように制御可能である。
DAC控制部件能够执行控制,以使得在列处理电路组 150中执行 CDS(关联复式取样 )时,根据量化比特的数目差,来调整第一取样和第二取样中每个的参照信号 SLP_ADC的斜率。 - 中国語 特許翻訳例文集